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本帖最后由 red 于 2023-1-11 22:01 编辑
The Extrel VeraSpec Atmospheric Pressure Ionization Mass Spectrometer (APIMS) is designed for reliable and repeatable low parts-per-trillion detection limits for contamination control in Ultra-High Purity (UHP) gases used in semiconductor and other high-tech industrial applications. Extrel VeraSpec大气压电离质谱仪 (APIMS) 专为半导体和其他高科技工业应用中使用的超高纯度 (UHP) 气体的污染控制而设计,可实现可靠且可重复的万亿分之一低检测限。
- 实时、多种类监测大宗电子气体中的所有关键杂质,包括痕量 O2、H2、H2O、CH4、CO、CO2、NH3、Xe 等
- 成熟、强大的质谱技术
- 无与伦比的测量范围,从PPT到100%,具有独特的双源电离配置
- 易于使用,具有集成的用户界面和预定的自动校准
- 业界最佳的客户支持和应用团队
- 可靠的超纯气体生产和供应
- 可靠的24/7工艺保护
- 一台分析仪分析所有杂质
- 最大化晶圆产能
- 全自动,实时杂质报警功能
Extrel VeraSpec 结合了大气压离子源技术和在工业气体分析领域已被优化使用超过50年的质谱仪技术。确保了APIMS质谱分析仪的卓越性能。
VeraSpec APIMS不仅分析速度快、灵敏度高,而且操作简单,可用于连续监控氮气、氩气、氦气、氧气和氢气的供应需求。通过对ppt级别杂质的快速响应最大程度保护电子制造工艺。
拥有Extrel VeraSpec APIMS,保护您的半导体生产超纯气对半导体设备生产非常重要。通过对超纯气纯度的连续监测可以确保半导体设备的最大产能。其被杂质污染后的代价是非常昂贵的。
半导体工厂需要连续实时监测工艺气的纯度,杂质的检测限至低ppt级别。
要达到如此低的检测下限,最好的方式就是应用大气压离子质谱仪。在20多年里,APIMS已经被应用在科学研究和检测工业在线微量气体的标准技术。
基于四极杆技术的Extrel VeraSpec APIMS系统能检测的气体含量和气体组分范围非常宽泛。同时仪器的长期稳定性、重复性是大多数应用所必须要求的。为了追求最优的性能、稳定性和运行时间,在半导体气体分析领域,Extrel 是世界上唯一运用19mm Tri-filter四极滤质器的质谱仪生产商。
操作简单且维护方便
VeraSpec™ APIMS 的创新设计让操作和维护变得简单,最大化运行时间和功效。
Extrel APIMS 技术的优点
VeraSpec APIMS 通过直观的、低维护量的操作让分析变得与众不同。
VeraSpec APIMS 最低检测下限指标:
痕量杂质* | 大宗气体 | N2 | Ar | He | H2 | O2** | Hydrogen (H2) | 100 ppt | 100 ppt | 50 ppt | n/a | 500 ppb | Oxygen (O2) | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | n/a | Methane (CH4) | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 100 ppb | Water (H2O) | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 100 ppb | Carbon Monoxide (CO) | 50 ppt | 10 ppt | 10 ppt | 50 ppt | 100 ppb | Carbon Dioxide (CO2) | 5 ppt | 5 ppt | 5 ppt | 5 ppt | 100 ppb | Nitrogen (N2) | n/a | 200 ppt | 10 ppt | 150 ppt | 100 ppb | Argon (Ar) | 200 ppt | n/a | 10 ppt | 50 ppt | 75 ppb |
* 如果您需要分析更多的杂质组分,请联系我们。
** 氧中杂质分析需要配置EI源
分析仪规格参数
双离子源 | 大气压离子(API) / 电子电离(EI) | API源背景 | 低于1ppt | 质量范围选项 | 1-500 amu(更多范围可供选择) | Tri-Filter 四极杆直径 | 19 mm | 检测器 | 脉冲计数电子增倍器 | 信噪比 | < 1000000比3 | 检测下限 | < 5 ppt(取决于杂质) | 分析时间 | 每种组分小于1秒 | 样品切换时间 | 15分钟低至 <1 ppb | 支持的背景气种类 | H2, N2, He, Ar, O2 | 支持的杂质种类 | H2, CO, CO2, H2O, O2, CH4, Kr, NH3, Xe, C2-C6(如果您需要分析更多的杂质组分,请联系我们。) | 尺寸 | 74" (H) x 28" (W) x 26" (D) (1.9 m x 0.7 m x 0.7 m) | 可支持的最大杂质种类 | 无限制 | 数字量I/O数 | 标准配置为16,支持无限数量 | 模拟量I/O数 | 标准配置为20,支持无限数量 | 通讯协议 | Modbus, OPC, 数字量I/O, 模拟量I/O |
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